赤外カメラとSWIR光源の組み合わせで高倍率観察が可能なレンズ 近赤外波長コート@1100nmを中心に高い透過率を実現 シリコンウェハーやICチップなどの半導体デバイスの内部観察やソーラーパネルやLCDなどの電気・電子部品の非破壊検査に使用 同軸タイプ
￥275,000 ~ ￥316,800 （税込）
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1個 | 1倍 |
￥275,000 （税込） |
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1個 | 2倍 |
￥302,500 （税込） |
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1個 | 4倍 |
￥316,800 （税込） |
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